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成都AG真人首頁精密儀器有限公司
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·基本信息
品牌: |
SNU |
型號: |
SIS 2000 |
操作方式: |
自動 |
功能: |
檢測、觀察、分析 |
精度 : |
1nm |
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其它型號: |
SIS 1200 |
·產品介紹
白光幹涉儀SIS係列采用增加相位掃描幹涉技術,是專為準確測量表麵輪廓、粗糙度、台階高度和其他表麵參數而設計的微納米測量係統,,為韓國SAMSUNG全球****指定供應商,LPL友好俱樂部成員,清華大學,台灣大學,首爾大學友好合作夥伴。
·產品特點
1、非接觸式測量:避免物件受損。 2、三維表麵測量:表麵高度測量範圍為1nm-200μm。 3、多重視野鏡片:方便物鏡的快速切換。 4、納米級分辨率:垂直分辨率可以達到0.1nm。 5、高速數字信號處理器:實現測量僅需要幾秒鍾。 6、掃描儀:采用閉環控製係統。 7、工作台:氣動裝置、抗震、抗壓。 8、測量軟件:基於windows 操作係統的用戶界麵,強大而快速的運算。
·技術參數
機型 |
SIS 2000 |
工作台 |
尺寸 |
350mm×350mm |
傾斜度 |
±3 ° |
測量行程 |
X:200mm Y:200mm |
Z軸行程 |
100mm |
運動方式 |
自動,馬達驅動 |
掃描速度 |
30μm/sec |
垂直分辨率 |
0.1nm |
CCD |
黑白CCD, 640×480 像素 |
物鏡安裝架 |
手動 5個位移的可定位夾具 |
鏡頭選配 |
鏡頭:5×、10×、20×、50× | |
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